LAI-2200C植物冠层分析仪

间接测量LAI的标准。

询价

LAI-2200C 植物冠层分析仪采用非破坏性方法，轻松准确测量叶面积指数（LAI）。在灵活性、先进特性、准确性使用便捷性方面，它始终胜过其他方法，如Ceptometry和半球摄影法。

这段简短视频解释了叶面积指数的概念、LAI-2200C 植物冠层分析仪测量原理，以及LAI-2200C如何在灵活性、先进特性、准确性和使用便捷性方面，胜过其他方法（如Ceptometry和半球摄影法）。

下载《估算冠层结构的间接方法》以获取有关LAI-2200C 植物冠层分析仪、Ceptometry和半球摄影等方法之间区别的更多信息。

即使是其他方法无法测量的行作物和孤立树木，LAI-2200C也能计算出LAI。

多数天空条件下都能准确测量。不同于其他方法，其他方法需要特定的太阳角度或云覆盖。

由科学家和工程师共同设计，提供快速准确的结果，以及先进的数据处理选项。

在单次测量中获得五个天顶角下的孔隙比。

LAI-2200C由科学家和工程师共同设计，提供快速准确的测量结果，和先进的数据处理方法。

询价

想要将LAI-2200升级至LAI-2200C吗？

想要获取更多信息吗？请与我们联系。